Atominės jėgos mikroskopas

Straipsnis iš Vikipedijos, laisvosios enciklopedijos.
Peršokti į: navigaciją, paiešką
Atominės jėgos mikroskopas kairėje su jį valdančiu kompiuteriu dešinėje.

Atominės jėgos mikroskopas (AJM – angl. AFM) – labai aukštos rezoliucijos skenuojančio zondo mikroskopas. AJM yra vienas iš svarbiausių įrenginių vaizduojant, matuojant arba manipuliuojant nano matmenų medžiagas. Informacija yra surenkama jaučiant paviršių su mechaniniu zondu.

Darbo rėžimai[taisyti | redaguoti kodą]

Yra keli atominės jėgos mikroskopo darbo rėžimai:[1]

  • kontaktinis
  • nekontaktinis
  • dinaminio kontaktavimo

Šaltiniai[taisyti | redaguoti kodą]